[发明专利]光学光漫射器及用于其测量的方法有效

专利信息
申请号: 201380051649.X 申请日: 2013-09-27
公开(公告)号: CN104704400B 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: M·T·伯奇尔;S·W·盖斯基;R·A·瓦纳特;葛家新;M·A·奥巴特 申请(专利权)人: 阿科玛法国公司
主分类号: G02B5/02 分类号: G02B5/02;C08L33/12;C08L79/08
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 郭辉,项丹
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于与点光源,诸如LED照明,一起使用的光学光漫射器。这些光学漫射器实现了光透射率与遮盖力的最佳平衡。该光学光漫射器是透明的塑料基质,诸如来自阿科玛公司(Arkema Inc.)的树脂,具有分散在该基质内的有机颗粒。这些颗粒是具有特定粒度和负载量的交联的珠粒。可以结合不同的珠粒以提供附加的特性如纹理化表面,并且优化遮盖力与光透射率。本发明还涉及包含至少一个发光二极管和由该光学光漫射器制成的外罩的发光装置。本发明进一步涉及用于评价遮盖力的方法。
搜索关键词: 光学 漫射 用于 测量 方法
【主权项】:
一种用于点光源的外罩,该外罩具有包含透明塑料基质的组合物,该透明塑料基质具有分散在其中的从1至10等效负载量重量百分数的具有从2至20微米的平均粒度的小漫射颗粒以及从2至25等效负载量重量百分数的具有从30至80微米的平均粒度的大漫射颗粒,其中漫射颗粒的总重量百分数是从3至30等效负载量重量百分数,该重量百分数是基于该透明塑料基质,并且其中透光度是大于75%并且遮盖力是大于40%。
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