[发明专利]多量级光谱纳米显微镜有效

专利信息
申请号: 201380048412.6 申请日: 2013-07-18
公开(公告)号: CN104661704B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 杨皓;凯文·韦尔舍 申请(专利权)人: 普林斯顿大学托管委员会
主分类号: A61N5/00 分类号: A61N5/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 梁丽超,陈鹏
地址: 美国新*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种用于非侵入式地追踪样本中的粒子的系统和方法。该系统包括2光子或者共焦激光扫描显微镜(LSM)以及耦接至具有X‑Y位置控制和Z位置控制的粒子保持设备。该系统还包括追踪模块,具有追踪激发激光器;X‑Y辐射聚集部件和Z辐射聚集部件,被配置为在X‑Y方向上和在Z方向上检测粒子的偏差。该系统还包括耦接至X‑Y辐射聚集部件和Z辐射聚集部件的处理器,该处理器生成被配置为驱动载物台的X‑Y位置控制和Z位置控制以追踪粒子的移动的控制信号。该系统还可包括同步模块,被配置为生成标记有载物台位置的LSM像素;以及处理模块,被配置为使用标记有载物台位置的LSM像素生成显示粒子3D轨迹的3D图像。
搜索关键词: 多量 光谱 纳米 显微镜
【主权项】:
一种用于非侵入式地追踪样本中的粒子的系统,包括:被配置为对所述样本进行扫描的2光子或者共焦的激光扫描显微镜(LSM),包括:多个扫描镜;以及多个检测器;粒子保持设备,具有耦接至所述粒子保持设备的所述粒子,所述粒子保持设备耦接至具有X‑Y位置控制和Z位置控制的载物台;追踪模块,包括:追踪激发激光器;X‑Y辐射聚集部件,被配置为在X‑Y方向上检测所述粒子的偏差;Z辐射聚集部件,被配置为在Z方向上检测所述粒子的偏差;以及处理器,耦接至所述X‑Y辐射聚集部件和所述Z辐射聚集部件,所述处理器被配置为生成用于驱动所述载物台的X‑Y位置控制和Z位置控制以追踪所述粒子的移动的控制信号;以及同步模块,被配置为通过以下方式同步所述LSM和所述追踪模块:从所述LSM接收当前扫描镜位置和检测器读出;从所述追踪模块接收当前载物台位置;并且生成标记有载物台位置的LSM像素。
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