[发明专利]研磨剂、研磨剂套剂及基体的研磨方法有效
申请号: | 201380045013.4 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN104582899B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 阿久津利明;南久贵;岩野友洋;藤崎耕司 | 申请(专利权)人: | 日立化成株式会社 |
主分类号: | B24B37/00 | 分类号: | B24B37/00;C09K3/14;H01L21/304 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的一个实施方式涉及的研磨剂含有:液态介质、含4价金属元素的氢氧化物的磨粒、具有芳香环及聚氧化烯链的高分子化合物、以及阳离子性聚合物,其中,高分子化合物的重均分子量在1000以上。 | ||
搜索关键词: | 研磨剂 基体 研磨 方法 | ||
【主权项】:
1.一种研磨剂,所述研磨剂含有液态介质、含4价金属元素的氢氧化物的磨粒、具有芳香环及聚氧化烯链的高分子化合物、以及阳离子性聚合物,所述高分子化合物的重均分子量在1000以上,所述高分子化合物包含选自下述通式(I)所表示的化合物和下述通式(II)所表示的化合物中的至少一种:R11‑O‑(R12‑O)m1‑H…(I)式(I)中,R11表示具有或不具有取代基的芳基,R12表示具有或不具有取代基的碳原子数1~5的亚烷基,m1表示15以上的整数;H‑(O‑R23)n1‑O‑R21‑R25‑R22‑O‑(R24‑O)n2‑H…(II)式(II)中,R21及R22分别独立地表示具有或不具有取代基的亚芳基,R23、R24及R25分别独立地表示具有或不具有取代基的碳原子数1~5的亚烷基,n1及n2分别独立地表示15以上的整数。
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