[发明专利]用于分析透明或低对比度样本的自动显微镜聚焦系统和方法有效

专利信息
申请号: 201380042661.4 申请日: 2013-08-29
公开(公告)号: CN105209955B 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: M·C·普特曼;J·B·普特曼;J·S·阿彻;J·A·奥兰多 申请(专利权)人: 毫微光电子影像股份有限公司
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司11283 代理人: 孙向民,肖冰滨
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种显微镜系统和方法凭经验确定物镜的景深的边界。所述系统和方法很大程度上自动化,其中待成像的样本的操纵由处理器和相关联设备实行。经验景深的计算也同样自动化。在凭经验确定所述景深的所述边界后,所述样本(尤其当透明或半透明时)可即刻在小于所述景深的用户界定的深度处准确成像。
搜索关键词: 用于 分析 透明 对比度 样本 自动 显微镜 聚焦 系统 方法
【主权项】:
一种用于通过使用透明样本凭经验确定显微镜系统的物镜的景深的边界的方法,所述显微镜系统具有显微镜、物镜、F制光圈、图像传感器,以及一或多个处理器,所述方法包括以下步骤:将透明样本的焦面放置在所述物镜的所述景深外部的第一位置处,其中所述焦面选自相对于所述物镜的近焦面和相对于所述物镜的远焦面;在所述第一位置处将所述F制光圈的边缘投影到所述焦面上以在其上产生F制光圈投影;实行所述透明样本与所述物镜之间的递增相对移动以将所述透明样本的所述焦面相对于所述物镜放置在不同递增位置处,且投影所述F制光圈的边缘以在所述递增位置处在所述焦面上产生F制光圈投影,其中所述实行递增相对移动的步骤将所述焦面带至所述景深的所述边界处的位置;利用所述图像传感器使所述F制光圈投影以电子方式成像在所述第一位置处以及所述递增位置处的所述焦面上;执行在所述以电子方式成像的步骤中由所述图像传感器提供的在所述第一位置处以及所述递增位置处的所述焦面上的所述F制光圈投影的图像的对比度分析,所述执行对比度分析的步骤由所述一或多个处理器实行且确立所述焦面何时处于所述景深的所述边界处的位置处。
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