[发明专利]使用激光剥离过程制造半导体结构的方法和相关的半导体结构有效

专利信息
申请号: 201380040589.1 申请日: 2013-07-08
公开(公告)号: CN104508815B 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 玛丽亚姆·萨达卡;伯纳德·阿斯帕;克里斯特勒·拉加赫·布兰查德 申请(专利权)人: 索泰克公司
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78;H01L33/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 王小东
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种制造半导体结构的方法包括将载体晶圆结合到基板之上;去除所述基板的至少一部分;使激光辐射透射穿过所述载体晶圆而使所述基板和所述载体晶圆之间的结合变弱;以及将所述载体晶圆与所述基板分开。其它方法包括在基板之上形成电路;在所述基板中形成沟槽以限定未分隔开的半导体晶粒;将载体基板结合到所述未分隔开的半导体晶粒之上;使激光辐射透射穿过所述载体基板而使所述未分隔开的半导体晶粒和所述载体基板之间的结合变弱;以及将所述载体基板与所述未分隔开的半导体晶粒分开。一些方法包括将所述基板的至少一部分变薄,使所述多个未分隔开的半导体晶粒仍结合到所述载体基板。
搜索关键词: 使用 激光 剥离 过程 制造 半导体 结构 方法 相关
【主权项】:
一种制造半导体结构的方法,该方法包括:在基板之上形成多个有源组件;从所述基板的定位有所述有源组件的上表面去除所述基板的第一部分,在所述多个有源组件的相邻的有源组件之间穿过所述基板的一部分形成沟槽;在形成所述沟槽之后,使用直接键合过程将载体晶圆结合到所述基板之上,在所述上表面覆盖所述沟槽;从所述基板的与所述上表面相反的下表面朝向所述上表面去除所述基板的第二部分,将所述基板变薄以暴露所述沟槽;使激光辐射透射穿过所述载体晶圆而使所述基板和所述载体晶圆之间的结合变弱;以及将所述载体晶圆与所述基板分开。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索泰克公司,未经索泰克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380040589.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top