[发明专利]用于制造集成电路装置、光学装置、微机械及机械精密装置的组合物有效

专利信息
申请号: 201380037762.2 申请日: 2013-07-12
公开(公告)号: CN104471487B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: A·克里普;A·洪丘克;S·蒙特罗潘切拉;Z·巴恩 申请(专利权)人: 巴斯夫欧洲公司
主分类号: G03F7/42 分类号: G03F7/42;C11D3/26
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 王丹丹;刘金辉
地址: 德国路*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明提供了用于使涂覆于半导体基板的光阻剂显影的包含季铵化合物的组合物。还提供了制造集成电路装置、光学装置、微机械及机械精密装置的方法。通过使用所述改良组合物来防止光阻剂膨胀可以避免图案塌陷。(I)(IIa) ‑X‑Y2 (IIb)
搜索关键词: 用于 制造 集成电路 装置 光学 微机 机械 精密 组合
【主权项】:
1.水性组合物的用途,其用于使涂覆于半导体基板上的光阻层显影以获得线间距尺寸为50nm或小于50nm且纵横比为2或大于2的图案化光阻层,所述组合物包含在溶剂中的式I的季铵化合物其中(a)R1选自式‑X‑CR10R11R12的C4‑C30有机基团,其中R10、R11及R12独立地选自C1‑C20烷基,且R10、R11及R12中的两者或三者可一起形成环体系,且R2、R3及R4选自R1或C1‑C10烷基、C1‑C10羟烷基、C1‑C30氨基烷基或C1‑C20烷氧基烷基,且X为化学键或C1‑C4二价有机基团,或(b)R1及R2独立地选自式IIa的有机基团其中Y1为C4‑C20烷二基,且R3及R4选自R1或C1‑C10烷基、C1‑C10羟烷基、C1‑C30氨基烷基或C1‑C20烷氧基烷基,且X为化学键或C1‑C4二价有机基团,或(c)R1、R2、R3及R4中的至少两者一起形成饱和双环或三环C5‑C30有机环体系,且其余R3及R4若存在则一起形成单环C5‑C30有机环体系或选自C1‑C10烷基、C1‑C10羟烷基、C1‑C30氨基烷基或C1‑C20烷氧基烷基,且X为化学键或C1‑C4二价有机基团,或(d)其组合,其中Z为抗衡离子且z为整数,其经选择以使得整体庞大季铵化合物不带电荷,且其中所述溶剂基本上由水组成。
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