[发明专利]在电极上设有导电体突出部的介质阻挡放电式的等离子产生电极结构有效
| 申请号： | 201380037414.5 | 申请日： | 2013-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN104756334B | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 孙熙植 | 申请（专利权）人： | SP技术有限公司 |
| 主分类号： | H01T19/04 | 分类号： | H01T19/04;H01T23/00 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司11234 | 代理人： | 宋义兴,赵婷 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供介质阻挡放电式等离子产生电极结构。本发明的电极结构包括上部导电电极和下部导电电极；至少一个导电电极突出部，形成于所述上部导电电极和/或下部导电电极的至少一个表面上；电介质层，以大体上均匀的厚度形成于彼此相向设置的所述上部导电电极和下部导电电极至少一个内侧表面；特定的间隔(d)，当所述上部导电电极和下部导电电极彼此紧密接触时，借助于所述导电电极突出部的突起效果，该间隔(d)形成于所述上部和下部导电电极与介电层之间或形成于彼此相向设置的介电层之间；在所述上部导电电极和下部导电电极上施加脉冲或交流电源以产生等离子。 | ||
| 搜索关键词： | 电极 设有 导电 突出 介质 阻挡 放电 等离子 产生 结构 | ||
【主权项】：
一种介质阻挡放电式等离子产生电极结构，其特征在于，包括：上部导电电极和下部导电电极；至少一个导电电极突出部，形成于彼此相向设置的所述上部导电电极和下部导电电极的至少一个内侧表面上；电介质层，形成于彼此相向设置的所述上部导电电极和下部导电电极的至少一个内侧表面上并具有大体均匀的厚度；以及预先确定的间隔(d)，当所述上部导电电极和下部导电电极彼此紧密接触时，借助于所述导电电极突出部的突起效果，该间隔(d)形成于所述上部导电电极 和下部导电电极中的一个导电电极与相对的电介质层之间或形成于彼此相向设置的电介质层之间；电介质层突出部，在所述导电电极突出部上部以均匀的厚度形成有电介质，其中，在所述上部导电电极和下部导电电极上施加脉冲或交流电源，以在它们之间产生等离子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于SP技术有限公司，未经SP技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380037414.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
