[发明专利]负性工作厚膜光致抗蚀剂有效
申请号: | 201380029761.3 | 申请日: | 2013-05-13 |
公开(公告)号: | CN104364279B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 陈春伟;卢炳宏;刘卫宏;M·A·托克西;金尚徹;S·赖 | 申请(专利权)人: | AZ电子材料卢森堡有限公司 |
主分类号: | C08F220/18 | 分类号: | C08F220/18;G03F7/027;G03F7/033;G03F7/038 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 宓霞 |
地址: | 卢森堡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了用于负性工作厚膜光致抗蚀剂的基于丙烯酸系共聚物的组合物。还包括使用所述组合物的方法。 | ||
搜索关键词: | 工作 厚膜光致抗蚀剂 | ||
【主权项】:
负性工作光敏性光致抗蚀剂组合物,包含:a)至少一种包含下式的结构的聚合物:其中R1‑R5独立地为H、F或CH3,R6选自取代的芳基、未取代的芳基、取代的杂芳基和取代的杂芳基,R7为取代或未取代的苄基,R8为直链或支链的C2‑C10羟烷基或丙烯酸C2‑C10羟烷酯,且R9为酸可裂解基团,v=10‑40摩尔%,w=0‑35摩尔%,x=0‑60摩尔%,y=10‑60摩尔%且z存在且范围至多45摩尔%,所述酸可裂解基团选自叔丁基、四氢吡喃‑2‑基、四氢呋喃‑2‑基、4‑甲氧基四氢吡喃‑4‑基、1‑乙氧基乙基、1‑丁氧基乙基、1‑丙氧基乙基、3‑氧代环己基、2‑甲基‑2‑金刚烷基、2‑乙基‑2‑金刚烷基、8‑甲基‑8‑三环[5.2.1.0 2,6]癸基、1,2,7,7‑四甲基‑2‑降冰片基、2‑乙酰氧基薄荷基、1‑甲基‑1‑环己基乙基、4‑甲基‑2‑氧代四氢‑2H‑吡喃‑4‑基、2,3‑二甲基丁‑2‑基、2,3,3‑三甲基丁‑2‑基、1‑甲基环戊基、1‑乙基环戊基、1‑甲基环己基、1‑乙基环己基、1,2,3,3‑四甲基双环[2.2.1]庚‑2‑基、2‑乙基‑1,3,3‑三甲基双环[2.2.1]庚‑2‑基、2,6,6‑三甲基双环[3.1.1]庚‑2‑基、2,3‑二甲基戊‑3‑基或3‑乙基‑2‑甲基戊‑3‑基;b)一种或多种由光化辐射活化的自由基引发剂,c)一种或多种能够进行自由基交联的可交联的丙烯酸酯化单体,其中丙烯酸酯官能度大于1,和d)溶剂。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于AZ电子材料卢森堡有限公司,未经AZ电子材料卢森堡有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380029761.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:气泡稳定性提高的粘结剂组合物及其制备方法
- 下一篇:一种压力保险阀