[发明专利]用于在串联质谱分析中使用交错窗宽度的系统及方法有效
| 申请号： | 201380025471.1 | 申请日： | 2013-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN104285276B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 斯蒂芬·泰特;罗纳德·F·邦纳 | 申请（专利权）人： | DH科技发展私人贸易有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/26 | 分类号： | H01J49/26 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人： | 曹晓斐 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供用于使用重叠的所测量质量选择窗宽度分析样本的系统及方法。使用处理器将样本的质量范围划分成两个或两个以上目标质量选择窗宽度。所述两个或两个以上目标宽度可具有相同宽度或可变宽度。使用所述处理器指示串联质谱仪跨越所述质量范围执行两个或两个以上碎片扫描。所述两个或两个以上碎片扫描中的每一碎片扫描包含所测量质量选择窗宽度。所述两个或两个以上碎片扫描的所述两个或两个以上所测量宽度可具有相同宽度或可变宽度。所述两个或两个以上所测量质量选择窗宽度中的至少两者重叠。所测量质量选择窗宽度的所述重叠对应于至少一个目标质量选择窗宽度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 串联 谱分析 使用 交错 宽度 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于使用重叠的所测量质量选择窗宽度分析样本的系统，其包括：串联质谱仪，其包含允许重叠的所测量质量选择窗宽度的质量分析器；以及处理器，其与所述串联质谱仪通信，所述处理器将样本的质量范围划分成两个或两个以上目标质量选择窗宽度，以及指示所述串联质谱仪跨越所述质量范围执行两个或两个以上碎片扫描，其中所述两个或两个以上碎片扫描中的每一碎片扫描包括所测量质量选择窗宽度，且其中所述两个或两个以上碎片扫描中的至少两个碎片扫描的所测量质量选择窗宽度的重叠对应于所述两个或两个以上目标质量选择窗宽度中的至少一个目标质量选择窗宽度，其中使用至少两个重叠的所测量质量选择窗宽度将所述质量范围的每一区域划分至少两次。
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