[发明专利]用于在串联质谱分析中使用交错窗宽度的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201380025471.1 申请日: 2013-04-19
公开(公告)号: CN104285276B 公开(公告)日: 2017-03-01
发明(设计)人: 斯蒂芬·泰特;罗纳德·F·邦纳 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 曹晓斐
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 串联 谱分析 使用 交错 宽度 系统 方法
【说明书】:

相关申请案交叉参考

本申请案主张2012年5月18日提出申请的第61/649,199号美国临时专利申请案的权益,所述美国临时专利申请案的内容以全文引用的方式并入本文中。

背景技术

可从串联质谱仪获得定性及定量信息两者。在此仪器中,在第一质量分析器中选择前驱物离子,在第二分析器中或在第一分析器的第二扫描中将前驱物离子碎裂并对碎片进行分析。可使用碎片离子光谱来识别分子,且可使用一或多个碎片的强度来对样本中存在的化合物的量进行定量。

选定反应监测(SRM)为此情形的众所周知的实例,其中选择前驱物离子、将其碎裂并将其传递到经设定以传输单个离子的第二分析器。当选定质量的前驱物碎裂以给出选定碎片质量的离子时产生响应,且此输出信号可用于定量。仪器可经设定以测量数个碎片离子以用于确认目的或测量数个前驱物碎片组合以对不同化合物进行定量。

分析的敏感性及特异性受在第一质量分析步骤中选择的质量窗的宽度影响。宽窗传输较多离子从而给出增加的敏感性,但也可允许不同质量的离子通过;如果后者给出处于与目标化合物相同质量的碎片,那么将发生干扰且准确度将受损害。

在一些质谱仪中,可使第二质量分析器在高分辨率下操作,从而允许碎片离子窗为窄的,使得特异性可在很大程度上被恢复。这些仪器还可检测所有碎片,因此其固有地检测不同碎片。借助此仪器,使用宽窗来最大化敏感性为可行的。

这些最近开发的高分辨率及高通量仪器允许在一时间间隔内使用具有邻近或重叠的质量窗宽度的多个扫描准确地扫描一质量范围。在分离的每一时间间隔处每一光谱的集合为整个质量范围的光谱的集合。一种用于使用窗化质谱分析扫描来扫描整个质量范围的示范性方法称为循序窗化获取(SWATH)。

当前,SWATH用户必须平衡SWATH实验的数目、积累时间以及跨越峰值的数据点的数目。举例来说,如果用户尝试跨越一质量范围使用窄质量窗宽度,那么结果可为,不存在足够的敏感度或循环时间过大以致不能提供跨越峰值的充足数据点。

附图说明

所属领域的技术人员将理解,下文所描述的图式仅用于图解说明目的。所述图式并非打算以任何方式限制本发明的范围。

图1是图解说明可在其上实施本发明教示的实施例的计算机系统的框图。

图2是根据各种实施例的具有均一长度的重叠所测量质量选择窗宽度的质量涵盖的图解说明,所述重叠所测量质量选择窗宽度用于通过相同数目个重叠所测量质量选择窗宽度扫描具有均一长度的目标质量选择窗宽度。

图3是根据各种实施例的具有可变长度的重叠所测量质量选择窗宽度的质量涵盖的图解说明,所述重叠所测量质量选择窗宽度用于通过相同数目个重叠所测量质量选择窗宽度扫描具有可变长度的目标质量选择窗宽度。

图4是根据各种实施例的具有均一长度的重叠所测量质量选择窗宽度的质量涵盖的图解说明,所述重叠所测量质量选择窗宽度用于通过可变数目个重叠所测量质量选择窗宽度扫描具有均一长度的目标质量选择窗宽度。

图5是展示根据各种实施例的用于使用重叠所测量质量选择窗宽度分析样本的系统的示意图。

图6是展示根据各种实施例的用于使用重叠所测量质量选择窗宽度分析样本的方法的示范性流程图。

图7是根据各种实施例的系统的示意图,所述系统包含执行用于使用重叠所测量质量选择窗宽度分析样本的方法的一或多个相异软件模块。

在详细描述本发明教示的一或多个实施例之前,所属领域的技术人员将了解,本发明教示在其应用方面并不限于以下详细描述中陈述的或图式中图解说明的构造细节、组件布置及步骤布置。而且,应理解,本文中所使用的措辞及术语用于描述目的且不应视为具有限制性。

具体实施方式

计算机实施的系统

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