[发明专利]使用量子点检测气体阻挡膜中的缺陷的方法有效
| 申请号： | 201380023523.1 | 申请日： | 2013-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN104272092A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 奈杰尔·皮克特;纳瑟莉·格雷斯蒂 | 申请（专利权）人： | 纳米技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/91 | 分类号： | G01N21/91;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 柳春琦 |
| 地址： | 英国曼*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 通过在气体阻挡膜中的裂纹或缺陷内由气相前体形成纳米粒子，可以由其中形成的所述纳米粒子的直径测定裂纹宽度。量子点的光学吸收和发射波长受粒径支配。对于特定的材料，所述吸收和/或发射波长因此可以与所述粒径(如由如透射电子显微法TEM等技术测定的)相关联。因此，荧光测量技术和/或共焦显微法可以用于特定气体阻挡膜内形成的量子点的尺寸，允许测定缺陷的尺寸和性质两者。所述方法可以用于评估缺陷对所述气体阻挡膜的完整性的潜在影响。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 量子 检测 气体 阻挡 中的 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
一种用于表征气体阻挡膜中的缺陷的方法，所述方法包括：在所述膜中的缺陷内使用气态前体合成量子点；检测所述量子点的光发射或吸光度。
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