[发明专利]用于颗粒质量浓度测量的设备和过程以及对用于颗粒质量浓度测量的设备的使用有效
| 申请号： | 201380021232.9 | 申请日： | 2013-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN104487817B | 公开（公告）日： | 2017-11-03 |
| 发明（设计）人： | 考科·詹卡 | 申请（专利权）人： | 皮卡索尔公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N27/70;G01M15/10 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人： | 李少丹,许伟群 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于颗粒质量浓度测量的设备(1)，所述设备(1)包括具有进口(3)和出口(4)的通道(2),用于导引包括具有标称计数中值直径CMDnom的颗粒(P,P＊)的样品流Q通过设备(1)；用于对颗粒(P,P＊)充电的装置(7,8)以及用于测量所述带电颗粒(12,12＊)携带的电流的装置(16,17)。设备1还包括俘获装置(13)，用于俘获基本上所有自由离子11和具有小于俘获截止直径Dc‑o的颗粒直径的带电颗粒12，所述截止直径Dc‑o是在其上通过所述俘获装置(13)的渗透基本偏移零的颗粒直径；以及装置(15)，用于调整所述获俘获装置(13)以将所述俘获截止直径Dc‑o调整为处于CMDnom‑50％‑+100％内的值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 颗粒 质量 浓度 测量 设备 过程 以及 使用 | ||
【主权项】：
一种用于颗粒质量浓度测量的方法，所述方法包括：A)导引包括具有标称计数中值直径CMDnom的颗粒的样品流通过通道(2)；B)对所述样品流的颗粒充电；C)通过具有俘获电压V的电场俘获基本上所有自由离子和具有直径小于截止直径Dc‑o的颗粒；以及D)测量带电颗粒(12,12*)携带的电流；其特征在于，所述方法还包括：E)将所述俘获电压V设置成去除基本上所有自由离子(11)的值V0，以及测量带电颗粒(12,12*)携带的电流I0；F)通过增加所述俘获电压V以及测量带电颗粒(12,12*)携带的电流I来调整所述俘获电压V，所述俘获电压的调整包括增加所述俘获电压V直到所述带电颗粒(12,12*)携带的电流I小于电流I0，使得所述截止直径Dc‑o处于样品流中的颗粒的标称计数中值直径CMDnom的‑50％‑+100％内；以及G)将测量的电流转换成颗粒质量浓度值。
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