[发明专利]利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序有效

专利信息
申请号: 201380020726.5 申请日: 2013-03-11
公开(公告)号: CN104246479B 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 叶梨拓哉 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G02B21/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种能够在基于利用共焦显微镜或多光子显微镜的光测量逐个检测单个粒子的扫描分子计数法的单个粒子检测技术中,在非发光粒子和发光粒子混合存在的样本溶液中分别识别并检测非发光粒子和发光粒子的存在的技术。关于本发明的检测样本溶液中的单个粒子的技术,一边使显微镜的光检测区域的位置在包含非发光粒子和发光粒子的样本溶液内移动一边检测来自光检测区域的光,生成按时间序列的光强度数据,将时序光强度数据中相对于背景光强度的光强度的增大检测为表示发光粒子的存在的信号,将相对于背景光强度的光强度的下降检测为表示非发光粒子的存在的信号。
搜索关键词: 利用 分析 单个 粒子 检测 装置 方法 以及 用计 程序
【主权项】:
一种单个粒子检测装置,使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测在样本溶液中分散且随机运动的单个粒子,该单个粒子检测装置的特征在于,包括:光检测区域移动部,其使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;光检测部,其检测来自上述光检测区域的光;以及信号处理部,其生成一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边由上述光检测部检测出的来自上述光检测区域的光的按时间序列的光强度数据,在上述按时间序列的光强度数据中逐个检测表示各个上述单个粒子的存在的信号,其中,由上述光检测部检测出的来自上述光检测区域的光包含实质固定的背景光,上述单个粒子包含具有比上述背景光的发光强度高的发光强度的第一单个粒子和具有比上述背景光的发光强度低的发光强度的第二单个粒子,上述第一单个粒子的上述信号为在上述第一单个粒子进入到上述光检测区域内时产生的、由上述光检测部检测出的光强度的增大,上述第二单个粒子的上述信号为在上述第二单个粒子进入到上述光检测区域内时产生的、由上述光检测部检测出的光强度的下降,其中,从每单位体积的上述第一单个粒子释放的发光强度超过从上述每单位体积的上述光检测区域内发出的背景光强度,从每单位体积的上述第二单个粒子释放的发光强度低于从上述每单位体积的上述光检测区域内发出的背景光强度。
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