[发明专利]检测质谱分析中最大质量峰的方法有效
| 申请号： | 201380011043.3 | 申请日： | 2013-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN104137222A | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 诺伯特·罗尔夫 | 申请（专利权）人： | 英福康有限责任公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 寇闯 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种使用质谱分析快速确定分子质量的方法，该方法包括以下步骤：指定质谱仪的第一调节值(M1)，记录相关的信号幅度(A1)，指定不同于第一调节值的第二调节值(M2)，测量相关的第二信号幅度(A2)，指定不同于第一调节值(M2)和第二调节值(M2)的第三调节值(M3)，测量相关的第三信号幅度(A3)，确定二次函数，该二次函数包括测量的幅度值作为y值以及指定的调节值作为x值，确定二次函数的最大值，根据x值的最大值确定寻找的调节值。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 谱分析 最大 质量 方法 | ||
【主权项】：
一种使用质谱分析测定分子质量的方法，所述方法包括以下步骤：预先设定质谱仪的第一设定值(M1)，获得相关的信号幅度(A1)，预先设定不同于所述第一设定值的第二设定值(M2)，测量相关的第二信号幅度(A2)，预先设定不同于所述第一设定值(M1)和第二设定值(M2)的第三设定值(M3)，测量相关的第三信号幅度(A3)，获得二次函数，所述二次函数含有测量的幅度值作为y值，且预先设定值作为x值，确定所述二次函数的最大值，根据所述最大值的x值来确定所需的分子质量的设定值。
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