[发明专利]具有扫描功能和单点测量模式的测绘仪器

摘要

本发明涉及一种具有扫描功能和单点测量模式的测量装置，该测量装置包括基座；组件；以及光束偏转单元。所述测量装置还具有利用测量辐射测量距离的距离测量功能、确定测量轴相对于所述基座的取向的角测量功能、处理数据并控制所述测量装置的控制和处理单元以及扫描功能。所述组件还具有成像系统，该成像系统具有成像透镜系统和像平面以用于生成并以图形方式提供视场的图像。所述测量装置具有单点测量模式，其中，在该单点测量模式下，测量轴可朝着目标点取向，可确定距目标点的距离以及测量轴的取向，并且可依据所述距离和测量辐射的取向确定目标点的位置。

主权项

一种测绘仪器(1,2)，该测绘仪器(1,2)包括：光束源(81)，该光束源(81)用于生成第一测量辐射(55)，基座(10)，该基座(10)限定垂直轴(11)，能够相对于所述基座(10)绕所述垂直轴(11)枢转的结构(20)，该结构(20)包括光束入射窗口和光束出射窗口，光束偏转单元(30)，该光束偏转单元(30)用于改变由所述第一测量辐射(55)的发射方向限定的测量轴的对准，其中，所述光束偏转单元(30)o能够相对于所述结构(20)绕水平轴(31)旋转，并且o相对于所述结构(20)按照如下方式布置，使得·从所述光束出射窗口出射的所述第一测量辐射(55)入射在所述光束偏转单元(30)上并且能够利用所述光束偏转单元(30)被引导至对象，并且·被所述对象反射并入射在所述光束偏转单元(30)上的第二测量辐射(56b)由此被引导到所述光束入射窗口上，用于利用所述第一测量辐射(55)测量距所述对象的距离的距离测量功能，用于确定所述测量轴相对于所述基座(10)的对准的角测量功能，用于数据处理并用于控制所述测绘仪器的控制和处理单元，以及扫描功能，其中，当由所述控制和处理单元按照自动控制的方式执行所述扫描功能时，利用以下操作进行扫描o使所述光束偏转单元(30)绕所述水平轴(31)旋转并且使所述结构(20)绕所述垂直轴(11)枢转，o针对落在特定扫描区域(61)内的扫描点(62)确定相应距离和所述第一测量辐射(55)的相应对准，以及o生成包括所述扫描点(62)的点云，该测绘仪器(1,2)的特征在于，所述结构还包括成像系统(50)，该成像系统(50)包括成像光学单元，该成像光学单元具有聚焦组和像平面以用于生成并以图形方式提供视场(56)的图像，其中，o所述视场(56)由所述成像系统(50)和所述光束偏转单元(30)限定，并且能够利用所述光束偏转单元(30)与所述测量轴一起对准，并且o能够利用所述聚焦组通过图像聚焦在所述像平面中对准焦点从而以图形方式提供所述视场(56)的所述图像，并且所述测绘仪器(1,2)具有单点测量模式，在所述测绘仪器(1,2)的范围内o所述测量轴能够被对准到目标点(63)上，并且o当由所述控制和处理单元按照自动控制的方式触发单点测量时，能够确定距所述目标点(63)的距离和所述测量轴的对准，并且能够根据所述距离和所述测量轴的对准来确定所述目标点(63)的位置。