[发明专利]真空蒸镀装置无效

专利信息
申请号: 201380006704.3 申请日: 2013-01-25
公开(公告)号: CN104066865A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 北村一树;宫川展幸 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: C23C14/24 分类号: C23C14/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王成坤;胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 真空蒸镀装置(1)具备:第1、第2蒸发源(3、4),使蒸镀材料(30、40)蒸发;蒸镀速度控制部(81),分别控制第1、第2蒸发源的动作;设定蒸镀速度存储部(82a、82b),分别存储预先设定的第1、第2蒸发源的设定蒸镀速度(A1、A2);第1、第2膜厚计(7a、7b),计量各蒸镀材料的混合蒸镀速度(Y1、Y2)。计量部(85)根据第2膜厚计(7b)相对于第1膜厚计(7a)的一个蒸镀材料的到达量比(B1)、第1膜厚计(7a)相对于第2膜厚计(7b)的另一蒸镀材料的到达量比(B2)和混合蒸镀速度(Y1、Y2),分别计算第1及第2蒸发源的蒸镀速度(X1、X2),蒸镀速度控制部(81)控制第1、第2蒸发源(3、4),以使计算值和设定值一致。
搜索关键词: 真空 装置
【主权项】:
一种真空蒸镀装置,用来在被蒸镀体上蒸镀多个蒸镀材料,其特征为,具备:第1蒸发源,使一个蒸镀材料蒸发;第2蒸发源,使另一蒸镀材料蒸发;蒸镀速度控制部,分别控制上述第1蒸发源及第2蒸发源的动作;设定蒸镀速度存储部,分别存储预先设定的上述第1蒸发源及第2蒸发源的设定蒸镀速度A1、A2;第1膜厚计,使从上述第1蒸发源及第2蒸发源的各自蒸发出的蒸镀材料附着,根据其膜厚计量各蒸镀材料的混合蒸镀速度Y1,配设于比上述第2蒸发源更靠近上述第1蒸发源的位置上;第2膜厚计,计量各蒸镀材料的混合蒸镀速度Y2,配设于比上述第1蒸发源更靠近上述第2蒸发源的位置上;混合蒸镀速度存储部,分别存储上述2个膜厚计所计量的混合蒸镀速度Y1、Y2;到达量比存储部,存储从上述第1蒸发源到达上述2个膜厚计各自的每单位时间的上述一个蒸镀材料之中第2膜厚计相对于上述第1膜厚计的一个蒸镀材料的到达量比B1,和从上述第2蒸发源到达上述2个膜厚计的每单位时间的上述另一蒸镀材料之中第1膜厚计相对于上述第2膜厚计的另一蒸镀材料的到达量比B2;计量部,根据上述混合蒸镀速度存储部中所存储的混合蒸镀速度Y1、Y2和上述到达量比存储部中所存储的到达量比B1、B2,分别计算第1蒸发源及第2蒸发源的蒸镀速度X1、X2;上述蒸镀速度控制部分别控制上述第1蒸发源及第2蒸发源的至少任一个,以便由上述计量部计算的第1蒸发源及第2蒸发源的蒸镀速度X1、X2的至少任一个和上述设定蒸镀速度存储部中所存储的设定蒸镀速度A1、A2的至少任一个分别一致。
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