[发明专利]近场多输入多输出无线测试系统、架构以及方法有效
申请号: | 201380003191.0 | 申请日: | 2013-10-08 |
公开(公告)号: | CN104871583B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 约瑟夫·阿麦兰·劳尔·伊曼纽尔;乔纳森·M.·哈默尔;查尔斯·W.·里德;金·C.·王 | 申请(专利权)人: | 网件公司 |
主分类号: | H04W24/00 | 分类号: | H04W24/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 系统、方法和架构允许对于MIMO(多输入多输出)无线设备(DUT)的上行链路和/或下行链路的性能进行增强近场测试,例如是为了任何的产品开发、产品验证和/或产品测试。信号信道可以优选地被模拟,以在近场测试环境下,在模拟的距离内测试被测设备(DUT)的性能。增强的方法提供了在无线网络上,例如但不限于无线局域网(WLAN),对于DUT的自动检测。增强型MIMO信道模拟器可以被优选地操作在高度动态范围上。 | ||
搜索关键词: | 近场 输入 输出 无线 测试 系统 架构 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测试系统,用于测试多输入多输出(MIMO)设备,包括:测试室,具有内部区域定义于其中,用来安装被测试MIMO设备(MIMO DUT),所述测试室包括至少一个电源连接器和至少一个信号连接器用于所述MIMO DUT;位于所述测试室中的天线矩阵,其中所述天线矩阵包括多个测试天线,其中每一个所述测试天线对应MIMO信道中的一个;和与所述天线矩阵连接的衰减模块,其中所述衰减模型包括具有至少一个处理器的控制器和多个信号处理通道,其中每一个所述测试天线对应所述MIMO信道中的一个,其中每一个所述信号处理通道包括:可编程衰减器,和至少一个巴特勒矩阵,其中所述控制器被设置为可通过操作每一个所述可编程衰减器来控制所述对应信号处理通道的衰减,并且控制每一个所述巴特勒矩阵以可控地合并信号;其中多个信号处理通道可操控去仿真位于所述MIMO DUT和所述测试天线之间的一个或多个距离。
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