[发明专利]近场多输入多输出无线测试系统、架构以及方法有效
申请号: | 201380003191.0 | 申请日: | 2013-10-08 |
公开(公告)号: | CN104871583B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 约瑟夫·阿麦兰·劳尔·伊曼纽尔;乔纳森·M.·哈默尔;查尔斯·W.·里德;金·C.·王 | 申请(专利权)人: | 网件公司 |
主分类号: | H04W24/00 | 分类号: | H04W24/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 近场 输入 输出 无线 测试 系统 架构 以及 方法 | ||
1.一种测试系统,用于测试多输入多输出(MIMO)设备,包括:
测试室,具有内部区域定义于其中,用来安装被测试MIMO设备(MIMO DUT),所述测试室包括至少一个电源连接器和至少一个信号连接器用于所述MIMO DUT;
位于所述测试室中的天线矩阵,其中所述天线矩阵包括多个测试天线,其中每一个所述测试天线对应MIMO信道中的一个;和
与所述天线矩阵连接的衰减模块,其中所述衰减模型包括具有至少一个处理器的控制器和多个信号处理通道,其中每一个所述测试天线对应所述MIMO信道中的一个,其中每一个所述信号处理通道包括:
可编程衰减器,和
至少一个巴特勒矩阵,
其中所述控制器被设置为可通过操作每一个所述可编程衰减器来控制所述对应信号处理通道的衰减,并且控制每一个所述巴特勒矩阵以可控地合并信号;
其中多个信号处理通道可操控去仿真位于所述MIMO DUT和所述测试天线之间的一个或多个距离。
2.如权利要求1所述的测试系统,其中所述衰减模块可切换于多个频率模式。
3.如权利要求2所述的测试系统,其中可切换的频率模式包括2.4千兆赫或5.0千兆赫中的任一种操作模式。
4.如权利要求1所述的测试系统,其中所述衰减模块被设置来同时操作于多个频率模式。
5.如权利要求1所述的测试系统,进一步包括:
信号源;和
与信号源相连的校准模块;
其中所述信号源被设置为在需要的频率上产生校准信号;和
其中所述校准模块被设置将所述校准信号输送进所述天线矩阵,其中所述系统被设置为通过所述天线矩阵来测量接收的信号。
6.如权利要求5所述的测试系统,进一步包括:
至少一个功率计;
其中一个信号通过所述天线矩阵被接收,且所述校准信号通过至少一个功率计被测量。
7.如权利要求1所述的测试系统,进一步包括:
具有一个或多个已知性能参数的参考MIMO设备。
8.如权利要求7所述的测试系统,其中所述系统被设置为比较所述MIMO DUT和所述参考MIMO设备之间的性能。
9.如权利要求7所述的测试系统,其中所述系统被设置为从所述参考MIMO设备发送信号至所述MIMO DUT。
10.如权利要求1所述的测试系统,其中所述测试室进一步包括一个吸收信号的机制。
11.一种用于测试多输入多输出(MIMO)设备的方法,包括以下步骤:
在测试室里启动一个无线多输入多输出MIMO设备;
从每一个设备天线发送一个上行链路的信号;
在所述测试室中每一个测试天线处接收一个合并的信号,其中每一个测试天线进一步包括一个关联的天线通道;
于对应的可编程衰减器内,使每一个所述天线通道衰减;和
在巴特勒矩阵组件里处理每一个所述衰减的信号,其中所述处理包括合并所述信号以模拟所述设备天线和所述测试天线间的距离。
12.如权利要求11所述的方法,进一步包括:
确定在程控距离内的所述MIMO设备的吞吐量是否在可接受的程度内;和
提供指示所述MIMO设备是否符合可接受程度或未达到可接受程度的输出。
13.如权利要求11所述的方法,进一步包括:
确定所述MIMO设备在一个或多个仿真的距离时的吞吐量,其为通道损耗之函数。
14.如权利要求11所述的方法,进一步包括:
控制所述衰减信号的频率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于网件公司,未经网件公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380003191.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。