[实用新型]高精尖X荧光测厚仪

摘要

本实用新型公开一种高精尖X荧光测厚仪，包括工作台、工作台控制板、X射线发生装置、摄像头、探测器、总控制面板，还包括X轴伺服面板、Y轴伺服面板、Z轴伺服面板、照明机构、定位机构、门控板、计算机，所述X射线发生装置包括光管、高压包和准直器，所述探测器包括小高压包、主放板、多道板，探测器，电致冷，无需液氮。高效X射线发生装置，大大提高了检测效率和工作效率，并且控制安全易操作，自动化程度高，测厚范围大，应用范围广，可以做合金材料及重金属微量成分分析，镀液主盐以及微量杂质分析。

主权项

高精尖X荧光测厚仪，包括工作台、工作台控制板、X射线发生装置、摄像头、探测器、总控制面板，其特征在于，还包括X轴伺服面板、Y轴伺服面板、Z轴伺服面板、照明机构、定位机构、门控板、计算机，所述X射线发生装置包括光管、高压包和准直器，所述探测器包括小高压包、主放板、多道板，所述X轴伺服面板、Y轴伺服面板、Z轴伺服面板均与工作台控制板电连接，所述工作台控制板和照明机构均与总控制面板电连接；所述X射线发生装置与门控板电连接，所述门控板、X射线发生装置、摄像头、探测器和定位机构均与计算机电连接，所述计算机与工作台控制板电连接。