[实用新型]一种硅块阴影测试仪有效
| 申请号： | 201320806634.7 | 申请日： | 2013-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN203658278U | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 李双江 | 申请（专利权）人： | 英利能源（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 米文智 |
| 地址： | 071051 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种硅块阴影测试仪，涉及一种硅块检测设备，包括光源和镜头，所述光源和镜头设置于硅块的两侧，光源和镜头及硅块保持在同一平面内，还包括可以移动的镜头固定架，所述镜头与镜头固定架固定连接。本实用新型是对原有阴影测试仪的改造，改造后的设备能够测量长度在400MM以上的大尺寸硅块，以有效的检测出硅块中的杂质，防止因杂质断线造成生产损失。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阴影 测试仪 | ||
【主权项】：
一种硅块阴影测试仪，包括光源（1）和镜头（5），所述光源（1）和镜头（5）设置于硅块（3）的两侧，光源（1）和镜头（5）及硅块（3）保持在同一平面内，其特征在于还包括可以移动的镜头固定架（6），所述镜头（5）与镜头固定架（6）固定连接。
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