[实用新型]集成电路功能测试仪有效
申请号: | 201320433013.9 | 申请日: | 2013-07-21 |
公开(公告)号: | CN203337779U | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 徐瑞;姜占鹏;郭红 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 哈尔滨东方专利事务所 23118 | 代理人: | 陈晓光 |
地址: | 150080 黑龙江省哈*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 集成电路功能测试仪。目前市场上的测试仪产品功能较单一,价格非常昂贵,给电路的测试、维护带来不便。本实用新型的组成包括:壳体(1),所述的壳体上安装有显示屏(2)、控制按钮(3),所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器(4)连接,所述的中央处理器分别与A/D转换芯片(5)、地址译码器(6)、电源电路(7)连接,所述的A/D转换芯片。本实用新型用于集成电路功能测试仪。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 功能 测试仪 | ||
【主权项】:
一种集成电路功能测试仪,其组成包括:壳体,其特征是:所述的壳体上安装有显示屏、控制按钮,所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器连接,所述的中央处理器分别与A/D转换芯片、地址译码器、电源电路连接。
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