[实用新型]集成电路功能测试仪有效

专利信息
申请号: 201320433013.9 申请日: 2013-07-21
公开(公告)号: CN203337779U 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 徐瑞;姜占鹏;郭红 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 哈尔滨东方专利事务所 23118 代理人: 陈晓光
地址: 150080 黑龙江省哈*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 集成电路功能测试仪。目前市场上的测试仪产品功能较单一,价格非常昂贵,给电路的测试、维护带来不便。本实用新型的组成包括:壳体(1),所述的壳体上安装有显示屏(2)、控制按钮(3),所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器(4)连接,所述的中央处理器分别与A/D转换芯片(5)、地址译码器(6)、电源电路(7)连接,所述的A/D转换芯片。本实用新型用于集成电路功能测试仪。
搜索关键词: 集成电路 功能 测试仪
【主权项】:
一种集成电路功能测试仪,其组成包括:壳体,其特征是:所述的壳体上安装有显示屏、控制按钮,所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器连接,所述的中央处理器分别与A/D转换芯片、地址译码器、电源电路连接。
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