[发明专利]一种叶面积指数尺度下推方法及系统在审

专利信息
申请号: 201310740372.3 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN104748703A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 张瑾;陈劲松;李洪忠;梁守真 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01B11/28 分类号: G01B11/28
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于遥感技术领域,提供了一种叶面积指数尺度下推方法及系统,该方法包括:获取分辨率成像光谱仪MODIS的监测数据,所述监测数据包括第一尺度下的植被指数、第二尺度下的植被指数以及第一尺度下的叶面积指数LAI1;对所述第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数进行归一化处理;基于归一化处理后的第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数,计算获得第一尺度下的植被覆盖度和第二尺度下的植被覆盖度;基于所述第一尺度下的LAI1、第一尺度下的植被覆盖度以及第二尺度下的植被覆盖度,计算获得第二尺度下的LAI2;其中,所述第二尺度小于第一尺度。本发明通过降尺度方式可有效提高产品地表植被信息的监测精度。
搜索关键词: 一种 叶面积 指数 尺度 下推 方法 系统
【主权项】:
一种叶面积指数尺度下推方法,其特征在于,所述方法包括:获取分辨率成像光谱仪MODIS的监测数据,所述监测数据包括第一尺度下的植被指数、第二尺度下的植被指数以及第一尺度下的叶面积指数LAI1;对所述第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数进行归一化处理;基于归一化处理后的第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数,计算获得第一尺度下的植被覆盖度和第二尺度下的植被覆盖度;基于所述第一尺度下的LAI1、第一尺度下的植被覆盖度以及第二尺度下的植被覆盖度,计算获得第二尺度下的LAI2;其中,所述第二尺度小于第一尺度。
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