[发明专利]选择性离子筛除飞行时间质量分析器及其实现方法与应用有效

专利信息
申请号: 201310728867.4 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN103745909A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 莫婷;黄正旭;高伟;朱辉;谭国斌;周振 申请(专利权)人: 上海大学;广州禾信分析仪器有限公司;昆山禾信质谱技术有限公司
主分类号: H01J49/40 分类号: H01J49/40;H01J49/10
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谭英强
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种选择性离子筛除飞行时间质量分析器,包括依次相连的推斥区、加速区、无场漂移区、反射区和检测区,推斥区、反射区与检测区呈“V”型组合排列,反射区内设有反射板,反射板上引入时序脉冲电压。本发明还涉及选择性离子筛除飞行时间质量分析器的实现方法和应用。本发明利用反射板中接入时序脉冲电压,对待测离子反射至检测区,对需筛除的离子加速引向反射板导走,从而实现对背景或载气离子的筛除,有利于消除这些气体对质谱检测的干扰,提升检测器动态范围,同时大大提高检测器(MCP)使用寿命,其方法实现简单方便,效果好,成本低。本发明可应用于气体分析仪器检测。
搜索关键词: 选择性 离子 筛除 飞行 时间 质量 分析器 及其 实现 方法 应用
【主权项】:
一种选择性离子筛除飞行时间质量分析器,其特征在于:包括依次相连的推斥区(1)、加速区(2)、无场漂移区(3)、反射区(4)和检测区(5),所述推斥区(1)、反射区(4)与检测区(5)呈“V”型组合排列,所述反射区(4)内设有反射板(6),所述反射板(6)上引入时序脉冲电压。
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