[发明专利]温度检测校准电路及方法

摘要

本发明属于电路技术领域，公开了一种可应用于集成电路芯片（例如安全芯片）的温度检测校准电路及方法，本发明利用PTAT校准电压产生单元产生一个除用于温度检测以外的校准用PTAT电压，校准用PTAT电压在设计计算时与一个可调基准电压产生单元产生的与温度无关的带隙基准电压VBG或与一个和工艺相关的PN结电压VBE在校准温度时相等。校准时通过在校准温度下改变可校准基准电压，使以两者作为输入的比较器在接近阈值处翻转，从而在校准温度下，减小了由于可校准基准电压随机偏差引入的误差，同时消除了比较器失调引入的误差，可以避免输入一个外部电压基准做校准，同时减少了校准用的PAD，降低了电路的复杂度，消除了比较器失调的影响，提高了温度检测的准确性。

主权项

一种温度检测校准电路，其特征在于，包括：PTAT校准电压产生单元，用于生成校准用PTAT电压；PTAT检测电压产生单元，用于生成检测用PTAT电压；可调基准电压产生单元，用于依据逻辑控制单元提供的校准控制变量生成可校准基准电压；逻辑选择单元，用于依据逻辑控制单元提供的状态位信号切换其与PTAT校准电压产生单元或PTAT检测电压产生单元的电性连接；比较器，用于将所述逻辑选择单元提供的电压信号与可调基准电压产生单元提供的可校准基准电压进行比较，并将比较结果提供给逻辑控制单元；逻辑控制单元，用于依据比较器提供的比较结果信息控制向逻辑选择单元进行状态位信号的提供以及控制向可调基准电压产生单元进行校准控制变量的提供。