[发明专利]IGBT模块驱动光耦电路fault信号的中断处理方法

摘要

本发明公开了一种IGBT模块驱动光耦电路fault信号的中断处理方法，即本方法由驱动光耦电路检测IGBT模块的导通压降Vce，Vce超过驱动光耦电路内部基准时输出低电平fault信号；该fault信号分别通过逻辑门电路输入微处理控制器的中断输入端和通过逻辑电路封锁微处理控制器输出调制解调信号；微处理控制器将fault信号与IGBT模块的采样电流进行比较，以判断fault信号是否为干扰信号；经微处理控制器判断为干扰信号时，解除逻辑电路的封锁并输出调制解调信号，微处理控制器退出中断，判断为非干扰信号时，微处理控制器报出IGBT模块短路过流故障信息。本方法避免fault信号的误报及IGBT模块短路过流损坏，保证了设备的正常运行。

主权项

一种IGBT模块驱动光耦电路fault信号的中断处理方法，其特征在于本方法包括如下步骤：步骤一、通过IGBT模块驱动光耦电路的饱和压降检测功能检测IGBT模块的导通压降Vce，Vce超过驱动光耦电路内部的基准时，驱动光耦电路fault引脚输出低电平信号；步骤二、将驱动光耦电路fault引脚低电平信号分为两路，一路通过逻辑门电路输入微处理控制器的中断输入端，微处理控制器进入中断状态，另一路通过逻辑电路封锁微处理控制器输出调制解调信号；步骤三、微处理控制器将中断输入端输入的fault信号与IGBT模块的采样电流进行比较，fault信号电流小于IGBT模块额定负载电流的1.5倍时判断是干扰信号，fault信号电流大于IGBT模块过载电流或者在200mS周期内连续出现两次时判断是非干扰信号；步骤四、经微处理控制器判断fault信号为干扰信号时，微处理控制器退出中断，解除逻辑电路的封锁并输出调制解调信号；步骤五、经微处理控制器判断fault信号为非干扰信号时，微处理控制器报出IGBT模块短路过流故障信息。