[发明专利]一种用离子迁移谱对分子印迹材料性能评价的新方法在审
| 申请号： | 201310691090.9 | 申请日： | 2013-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN104713943A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 李海洋;梁茜茜;王新;周庆华;陈创;王祯鑫;温萌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 刘阳 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及采用便携式的离子迁移谱灵敏评估以爆炸物分子为模板的分子印迹材料的新方法。本发明以TNT爆炸物分子印迹材料为例，属于离子迁移谱检测技术领域，采用负离子模式，镍源电离源或紫外灯电离源，论述了配有热解析进样器，建立了离子迁移谱分析分子印迹材料吸附性能的新方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 迁移 分子 印迹 材料 性能 评价 新方法 | ||
【主权项】：
一种用离子迁移谱对TNT爆炸物分子印迹材料性能评价的方法，其特征在于：通过离子迁移谱对爆炸物的高灵敏响应(sub‑ppm)评测分子印迹材料在合成和清洗过程中模板分子的残余量，同时用来评估分子印迹材料对目标分子的吸附性能和吸附选择性。
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