[发明专利]防短路信号测试探针有效
申请号: | 201310681487.X | 申请日: | 2013-12-13 |
公开(公告)号: | CN104714062B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 贺文辉 | 申请(专利权)人: | 神讯电脑(昆山)有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R31/28 |
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地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种防短路信号测试探针,其应用于IC测试中,所述防短路信号测试探针包括:测试探针,其下端头部用于触碰待测件的一pin脚;绝缘片,其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂,所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针,所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧,所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触,所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部。本发明能够缩短测试时间,提高工作效率;有效的保证了不会因短路而损坏待测件的问题,同时节约了测试成本。 | ||
搜索关键词: | 短路 信号 测试 探针 | ||
【主权项】:
1.一种防短路信号测试探针,其应用于IC测试中,所述防短路信号测试探针包括测试探针,所述测试探针的下端头部用于触碰待测件的一pin脚,所述待测件为具有密集pin脚的芯片,其特征在于,所述防短路信号测试探针还包括:绝缘片,其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂,所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针,所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧,所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触,所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部,所述绝缘片的两侧臂的厚度小于所述pin脚之间的距离,所述绝缘片具有弹性。
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