[发明专利]防短路信号测试探针

说明书

一种防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括：测试探针，其下端头部用于触碰待测件的一pin脚；绝缘片，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂，所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针，所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧，所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触，所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部。本发明能够缩短测试时间，提高工作效率；有效的保证了不会因短路而损坏待测件的问题，同时节约了测试成本。

【技术领域】

本发明涉及一种测试探针，特别涉及一种防短路信号测试探针。

【背景技术】

任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。

如从生产流程方面的测试讲，IC测试一般又分为芯片测试、成品测试及检验测试，且这些项目的测试都不可避免的会使用到测试探针，请参阅图1绘示，对一些pin脚11较密的芯片10（如：KBC、Audio等）进行IC测试时，由于测试探针的直径较小，不易与pin脚11准确的对应，则经常会出现测试探针滑动造成短路的问题，严重时会造成芯片的烧毁或其他元件的损坏，从而给信号测试带来严重的不便。

有鉴于此，实有必要提供一种防短路信号测试探针，以解决上述因测试探针滑动造成短路及损坏电子元件的问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的为提供一种防短路信号测试探针，以解决上述问题。

为了达到上述目的，本发明提供的防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括：

测试探针，其下端头部用于触碰待测件的一pin脚；

绝缘片，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂，所述绝缘片的中间部位套设于所述测试探针，所述两侧臂分别位于所述测试探针的两侧，所述两侧臂下端与所述测试探针头部紧密接触，所述两侧臂下端长于所述测试探针的头部。

较佳的，所述绝缘片具有弹性。

较佳的，所述待测件为具有密集pin脚的芯片。

较佳的，所述绝缘片的宽度大于所述测试探针的直径。

较佳的，所述绝缘片的横截面呈三角形。

相较于现有技术，本发明防短路信号测试探针由所述测试探针与绝缘片组成，因此在IC测试中所述绝缘片的两侧臂可将所述pin脚与其相邻的pin脚隔开，从而避免了所述测试探针头部的滑动，而造成短路的问题。同时本发明能够缩短测试时间，提高工作效率；有效的保证了不会因短路而损坏待测件的问题，同时节约了测试成本。

【附图说明】

图1绘示为现有芯片的结构示意图。

图2绘示为本发明防短路信号测试探针的结构示意图。

【具体实施方式】

以下结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。

请参阅图2绘示，为了达到上述目的，本发明提供的防短路信号测试探针，其应用于IC测试中，所述防短路信号测试探针包括：

测试探针100，其下端头部110用于触碰待测件10的一pin脚11；

绝缘片200，其两端沿其本体向下弯折形成两侧臂210，所述绝缘片200的中间部位套设于所述测试探针100，所述两侧臂210分别位于所述测试探针100的两侧，所述两侧臂210下端与所述测试探针头部110紧密接触，所述两侧臂210下端长于所述测试探针100的头部110。

其中，所述绝缘片200具有弹性。