[发明专利]一种同时使用两种不同γ源的射线照相检测方法

摘要

发明公开了一种同时使用两种不同γ源的射线照相检测方法，属于射线照相检测技术领域。其步骤为：组建射线照相检测系统，所述的射线照相检测系统包括192Ir探伤机和75Se探伤机；计算曝光时间，使用γ射线曝光计算器计算出单独使用192Irγ源对工件进行透照的曝光时间为t1，使用γ射线曝光计算器计算出单独使用75Seγ源对工件进行透照的曝光时间为t2，用公式计算同时使用192Irγ源和75Seγ源对工件进行透照所需要的曝光时间t：t=t1t2/(t1+t2)；送源并对胶片进行曝光，按照确定的曝光时间t对胶片进行曝光；曝光时间结束后，收源。本发明透照厚度范围大，射线底片分辨率高，检测灵敏度高，且大大提高了检测效率。

主权项

一种同时使用两种不同γ源的射线照相检测方法，其操作步骤为：步骤一、组建射线照相检测系统所述的射线照相检测系统包括192Ir探伤机（1）和75Se探伤机（2）；步骤二、计算曝光时间：使用γ射线曝光计算器计算出单独使用192Irγ源对工件进行透照的曝光时间为t1，使用γ射线曝光计算器计算出单独使用75Seγ源对工件进行透照的曝光时间为t2，用下列公式计算同时使用192Irγ源和75Seγ源对工件进行透照所需要的曝光时间t：t=t1t2/(t1+t2)；步骤三、送源并对胶片进行曝光分别打开192Ir探伤机安全锁（7）和75Se探伤机安全锁（8），同时顺时针方向摇动192Ir驱动装置手柄（17）和75Se驱动装置手柄（18），将192Irγ源输送到192Ir输源管端部（11）的曝光焦点位置，将75Seγ源输送到75Se输源管端部（12）的曝光焦点位置，并按照步骤二确定的曝光时间t对胶片进行曝光；步骤四、收源步骤三曝光时间结束后，同时逆时针方向摇动192Ir驱动装置手柄（17）和75Se驱动装置手柄（18），将192Irγ源输收回到192Ir探伤机（1）的屏蔽位置，将75Seγ源输收回到75Se探伤机（2）的屏蔽位置，并分别锁上192Ir探伤机安全锁（7）和75Se探伤机安全锁（8）。