[发明专利]嵌入式存储器测试系统有效
| 申请号： | 201310659144.3 | 申请日： | 2013-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN103871476B | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 拉古拉姆·达莫达兰;纳韦恩·布霍里亚;阿曼·科克拉迪 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中所述存储器可在不同于所述pBIST的电压域的电压域下操作。使用多个缓冲寄存器及同步寄存器来避免由桥接所述各种电压域所需的电压移位器所引入的时间延迟而导致的亚稳条件。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 存储器 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种嵌入式存储器测试系统，其包括：可编程内建自测试pBIST引擎；多个子芯片，其执行存储器测试及数据记录功能；及多个异步桥接器，其将所述pBIST引擎连接到所述子芯片，所述多个异步桥接器的每一者可操作以对pBIST输出信号进行电压电平移位以匹配适用子芯片的电压域，所述多个异步桥接器的每一者包括：多个电压电平移位器；多个指针寄存器，其可操作以在每一循环上如数据有效信号所指示而递增；多个同步寄存器；及多个数据缓冲寄存器组。
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