[发明专利]一种用于蜂窝阵列式长细通孔的光学检测方法与系统无效
| 申请号： | 201310618108.2 | 申请日： | 2013-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN103674976A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 赵宏;李进军;蒋克俭 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06T5/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 蔡和平 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于光学检测技术，涉及一种用于蜂窝阵列式长细通孔的光学检测方法及系统。光学测量系统由线性面光源、被测工件、光学成像玻璃、聚光透镜、摄像机以及相应的支架部件组成。系统采用光学透射式测量原理，由线性面光源发出强度均匀的平面光，平面光经过被测工件上的阵列式通孔在光学成像玻璃上投射成像，摄像机通过聚光透镜采集光学成像玻璃投影像，然后进行通孔图像处理与识别，判断微细孔的通断情况。该方法可用于生产线和单个工件的通孔率测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 蜂窝 阵列 式长细通孔 光学 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于蜂窝阵列式长细通孔的光学检测系统，其特征在于，包括线性面光源（1），光学成像玻璃（3），聚光透镜（4），以及摄像机（5）；其中，被测工件（2）放置于线性面光源（1）和光学成像玻璃（3）之间，线性面光源（1）发出的平面光经被测工件（2）上的阵列式通孔在光学成像玻璃（3）上投影成像，摄像机（5）通过聚光透镜（4）采集光学成像玻璃上的正投影像，然后进行通孔图像处理与识别。
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