[发明专利]一种特征点处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310611399.2 申请日: 2013-11-26
公开(公告)号: CN103634904B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 邓中亮;余彦培;王克己;安倩;阮凤立;李晓阳;马文旭 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H04W64/00 分类号: H04W64/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 代理人: 张耀光
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种特征点处理方法及装置,能够减少非视距误差,从而提高定位精度。所述方法包括根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,该矩阵S中的元素用于标识N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;对该矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对该矩阵S1中的元素进行分类;去除该矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的除孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位。这样,通过对特征点进行分类并去除孤立点,从而减少非视距误差,应用去除孤立点后剩余的特征点进行定位能够提高定位精度。
搜索关键词: 一种 特征 处理 方法 装置
【主权项】:
一种特征点处理方法,其特征在于,包括:根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S,所述矩阵S中的元素用于标识所述N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,其中N为大于或等于2的整数;对所述矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对所述矩阵S1中的元素进行分类;去除所述矩阵S1中每一类元素对应的特征点中的孤立点,每一类元素对应的特征点中去除孤立点后剩余的特征点用于定位;每一类元素对应的特征点中,第一NLOS误差减去第二NLOS误差所得到的值大于预设值的特征点为所述孤立点;所述根据N个特征点中每两个特征点能否聚为一类,建立矩阵S包括:如则所述N个特征点中对应的两个特征点能聚为一类,否则不能聚为一类;其中,n为噪声系统,c为光速,(x1,y1,z1)为特征点1的坐标,(x2,y2,z2)为特征点2的坐标,τa,b(x1,y1,z1)为在特征点1测量的基站a、b的信号到达时间差,τa,b(x2,y2,z2)为在特征点2测量的基站a、b的信号到达时间差,(xa,ya,za)为基站a的坐标;其中,所述对矩阵S中的元素进行合并,得到矩阵S1,并对所述矩阵S1中的元素进行分类包括:对所述矩阵S中包含相同元素的进行合并,并对相同元素所对应的特征点进行处理,得到所述矩阵S1;根据矩阵S1得到初次聚类结果,S1中每一行为数值为“1”的各列带表的特征点为同一类;根据确定所述矩阵S1中每一类元素对应的特征点中每个特征点的第一NLOS误差,其中,(x,y,z)为特征点坐标,τa,b(x,y,z)为在坐标为(x,y,z)的特征点上测量得到的基站a、b的信号到达时间差;根据NLOSa,b(x,y)=a1x+a2y+a3确定所述矩阵S1中每一类元素对应的特征点中每个特征点的第二NLOS误差,其中,a1至a3为系数,首先利用多个不同特征点求得的NLOSa,b(x,y),再采用最小二乘法可求得该系数。
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