[发明专利]用于测量二次电池的厚度的装置无效

专利信息
申请号: 201310606864.3 申请日: 2013-11-25
公开(公告)号: CN104236503A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 白云成;金炯信;李石峰 申请(专利权)人: 三星SDI株式会社
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 王占杰;韩明星
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种用于测量二次电池的厚度的装置,所述装置包括下板部分、上板部分、固定部分、移动部分和厚度测量部分。所述下板部分具有设置在下板部分的顶表面上的二次电池。所述上板部分相对于下板部分垂直地可移动,所述二次电池设置在上板部分和下板部分之间。所述固定部分位于上板部分的上部处,并固定到下板部分。所述移动部分使上板部分相对于下板部分垂直地移动。所述厚度测量部分位于固定部分处,并测量距上板部分的距离。在所述装置中,移动部分连接到上板部分的中心部分。
搜索关键词: 用于 测量 二次 电池 厚度 装置
【主权项】:
一种用于测量二次电池的厚度的装置,所述装置包括:下板部分,构造为使二次电池设置在下板部分的顶表面上;上板部分,构造为相对于下板部分垂直地可移动,其中,二次电池设置在上板部分和下板部分之间;固定部分,位于上板部分的上部处,固定部分固定到下板部分;移动部分,构造为使上板部分相对于下板部分垂直地移动;以及厚度测量部分,位于固定部分处,厚度测量部分测量距上板部分的距离,其中,移动部分连接到上板部分的中心部分。
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