[发明专利]一种扩展可见光测量量程范围的方法

摘要

本发明属于量程扩展方法，具体涉及一种扩展可见光测量量程范围的方法。它包括步骤一测量标准板，测量标准光亮度Lvr和每幅图像的像素平均值步骤二测量目标，测量每幅图像的像素值Psumi。步骤三计算。使用本发明的效果是(1)在对目标模型进行不同角度的光散射测量时，避免了CCD图像饱和对测量结果的影响。(2)测量结果既考虑目标散射大面积的低散射分量，又兼顾了小面积的高反射分量。(3)扩展了可见光测量量程。(4)利用该测量方法获得数据处理结果，分析了目标模型不同的光散射分布。

主权项

一种扩展可见光测量量程范围的方法，其特征在于，包括下述步骤：步骤一：测量标准板，设置作为目标的标准板，用入射光对标准板照射，用探测器对标准板进行观测，观测结果输送给计算机，本步骤测量的数据之一为标准板的标准光亮度Lvr；步骤二：测量目标，对任意目标也进行步骤一中的测量，使用的入射光也为光亮度标准值，光亮度衰减10dB的值，光亮度衰减20dB的值，光亮度衰减30dB的值，在上述四个情况下测量每幅图像的像素值Psumi，步骤三：计算，用下述公式计算目标的光强度其中Lvr为标准板无衰减情况下的光亮度，为CCD单位像素所对应的目标实际投影面积，为衰减度为nidB时采集的标准板图像的像素平均值，Psum为待测目标图像的像素积分值；计算得到的结果即为扩大量程范围后的光强度。