[发明专利]一种颗粒温度δv的测量方法有效
| 申请号： | 201310577859.4 | 申请日： | 2013-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN103604514A | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 杨晖;杨海马;孔平;郑刚 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01K3/04 | 分类号： | G01K3/04;G01N15/00 |
| 代理公司： | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人： | 郁旦蓉 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种颗粒温度δv的测量方法，用于流化床内颗粒温度的测量，其特征在于，用激光作为光源，通过凹透镜扩散后照射在流化床内的颗粒上，在远场产生动态波动的散斑，用成像装置以单位曝光时间T0对散斑连续成像，得到一系列曝光时间为T0的散斑图像；将散斑图像输入电脑，电脑将单位曝光时间T0的散斑图像转换成单位曝光时间T0的像素灰度值，单位曝光时间T0的像素灰度值经过计算得到颗粒温度δv随时间变化的曲线。根据本发明提供的一种颗粒温度δv的测量方法，可使时空分辨率达到微秒级和纳米级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 温度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种颗粒温度δv的测量方法，用于流化床内颗粒温度的测量，其特征在于，所述测量方法包括以下步骤：步骤一：用激光作为光源，通过凹透镜扩散后照射在所述流化床内的颗粒上，在远场产生动态波动的散斑；步骤二：用成像装置以单位曝光时间T0对步骤一中的所述散斑连续成像，得到一系列所述单位曝光时间T0下的散斑图像；步骤三：将步骤二中的所述散斑图像输入电脑，所述电脑将所述单位曝光时间T0下的所述散斑图像转换成所述单位曝光时间T0下的像素灰度值；步骤四：将步骤三中得到的所述单位曝光时间T0下的所述像素灰度值经过计算，得到所述颗粒温度δv随时间变化的情况。
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