[发明专利]一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法

摘要

本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N-M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率λ相同，针对安全系统的定期试验周期为T，定期试验带来的风险降低为Q，利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果，与T进行比较，当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法，解决了在不同的试验策略下，不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法，本发明思路方法明确，公式统一，能够适用于所有的逻辑结构。

主权项

一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法，设待测试系统的通道数量为N，其特征在于，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N‑M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率相同并以λ来表示，针对待测试系统的定期试验周期为T，定期试验带来的风险降低为Q，则：待测试系统的每个通道独立试验时的不可用性为： Q = C N N - M + 1 × ( λT 2 ) N - M + 1 - - - ( 1 ) 待测试系统的所有通道同时试验时的不可用性为： Q = 1 T × C N N - M + 1 × ∫ 0 T ( ( T - t ) × λ × e - λt ) N - M + 1 dt - - - ( 2 ) 待测试系统的所有通道进行完全交错试验时的不可用性计算为： Q = N T × ∫ 0 T N ( λ × e - λt ) N - M + 1 × D i dt - - - ( 3 ) 其中 D i = Σ 0 ≤ t i < t 2 < . . . < i N - M + 1 ≤ N ( i 1 + 1 N T - t ) ( i 2 + 1 N T - t ) . . . ( i N - M + 1 + 1 N T - t ) , 将上述各式的分析结果分别带入相应等式的左侧，然后不断调整T的值，用计算出的不可用性与预期的不可用进行比较，当二者接近时的T值即为此待测试系统的定期试验周期。