[发明专利]一种大型结构体转动惯量测量系统有效
申请号: | 201310565542.9 | 申请日: | 2013-11-14 |
公开(公告)号: | CN103542982B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 汤浩;刘辉;杨尔卫;邓星 | 申请(专利权)人: | 湖南航天机电设备与特种材料研究所 |
主分类号: | G01M1/10 | 分类号: | G01M1/10 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司43113 | 代理人: | 郭立中 |
地址: | 410205 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种大型结构体转动惯量测量系统,包括底板,所述底板上安装有y向测量系统或x向测量系统。本发明的系统可使被测产品x向与y向转动惯量的测量分开进行,实现在同一测试台不对被测件翻转前提下完成x向、y向两个方向的测量;本发明采用轴承组件与滚子轴承相结合的滚动支撑方式,极大降低了系统阻尼影响,提高了系统测量精度;本发明通用性强,可对不同形状、不同规格的大型结构体进行测量,测量精度高、测试范围宽、设备成本低、维修方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 大型 结构 转动惯量 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种大型结构体转动惯量测量系统,包括底板(11),其特征在于:当用于测量大型结构体y向转动惯量时,所述底板(11)上安装有y向测量系统;所述y向测量系统包括固定在底板(11)上的用于为被测结构体(5)提供y向扭力矩的y向转筒组件,所述y向转筒组件上端固定有支承板(9),所述支承板(9)上水平设置有两根平行导轨(6),每根导轨(6)上安装有一个以上可沿所述导轨(6)滑动的y向测量滑块(7),两根平行导轨(6)相对位置上的y向测量滑块(7)为一组,每组y向测量滑块(7)上固定有一个用于固定被测结构体(5)的固定机构;所述支承板(9)上设置有用于测量所述y向测量滑块(7)滑动距离的光栅尺;所述支承板(9)下表面固定有y向测量光电头(8);所述底板(11)上固定有与所述y向测量光电头配套的y向测量感光器(10);当用于测量大型结构体x向转动惯量时,所述底板(11)上安装有x向测量系统;所述x向测量系统包括两根平行设置在所述底板(11)一端的x向测量水平导轨(15);所述两根x向测量水平导轨(15)上各设置有一个以上可沿所述x向测量水平导轨(15)滑动的x向测量滑块(14);两根x向测量水平导轨(15)相对位置上的x向测量滑块(14)为一组,每组x向测量滑块(14)上固定有一个支撑架(1);所述支撑架(1)顶端与用于为所述被测结构体(5)提供x向扭力矩的x向扭转组件一端固定连接;所述x向扭转组件另一端与所述被测结构体(5)一端连接;所述x向扭转组件下表面固定有x向测量光电头(2),所述x向测量水平导轨(15)一端的底板(11)上固定有与所述x向测量光电头(2)配套的x向测量感光器(13);所述y向测量系统包括两个固定机构;所述固定机构包括外固定环(32),所述外固定环(32)内壁通过多个等间隔布置的轴承组件(31)与转动卡环(33)外壁接触,且所述转动卡环(33)能以穿过所述转动卡环(33)圆心且与所述转动卡环(33)所在平面垂直的轴为中心旋转;所述外固定环(32)、转动卡环(33)同心;所述转动卡环(33)内径与所述被测结构体(5)外径大小匹配;所述外固定环(32)通过底座(34)与所述y向测量滑块(7)固定连接;被测结构体(5)放置于转动卡环(33)内,紧固螺栓(30)与被测结构体(5)贴合并固定;通过更换轴承组件(31)和转动卡环(33)以适应不同尺寸大小的被测结构体,沿导轨(6)移动y向测量滑块(7),从而改变被测结构体(5)在支承板(9)上的位置。
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