[发明专利]一种基于FREAK的高速高密度封装元器件快速定位方法在审
| 申请号： | 201310562520.7 | 申请日： | 2013-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN103679193A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 高红霞;吴丽璇;陈安;胡跃明 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06K9/46 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 蔡茂略 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FREAK的高速高密度封装元器件快速定位方法，该方法是：采用SURF配准方法中的Hessian矩阵检测关键点的位置所在；利用关键点的邻域信息，确定特征点的主方向；根据视网膜模型的分布，训练学习采样点对比对，根据对比对构建FREAK特征向量；根据FREAK特征向量，采用海明距离作为特征向量的相似性度量，进行最近邻匹配；通过匹配的特征点对构建仿射变换方程，通过最小二乘法求解上述变换方程，计算得到空间变换模型参数，即：x方向的平移参数m、y方向的平移参数n和旋转角度β。与现有技术相比，本发明大大降低了特征描述与匹配的计算复杂度和存储代价，实现了高速高精度亚像素级定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 freak 高速 高密度 封装 元器件 快速 定位 方法 | ||
【主权项】：
一种基于FREAK的高速高密度封装元器件快速定位方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）关键点定位：输入待配准图像和模板图像，采用Hessian矩阵检测关键点的位置所在；（2）特征描述：利用关键点的邻域信息，确定特征点的主方向；根据视网膜模型的分布，训练学习采样点对比对，根据对比对构建FREAK特征向量；（3）特征匹配：根据FREAK特征向量，采用海明距离作为特征向量的相似性度量，进行最近邻匹配；通过匹配的特征点对构建仿射变换方程，通过最小二乘法求解上述变换方程，计算得到空间变换模型参数，即：x方向的平移参数m、y方向的平移参数n和旋转角度β。
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