[发明专利]低电源损耗的探针卡结构有效
申请号: | 201310561229.8 | 申请日: | 2013-11-12 |
公开(公告)号: | CN103808992B | 公开(公告)日: | 2017-09-12 |
发明(设计)人: | 顾伟正;赖俊良 | 申请(专利权)人: | 旺矽科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种探针卡结构用以将一检测机的电源信号以及测试信号传输予一待测电子对象;该探针卡结构包含有一针座、多根信号针、一信号线路以及至少一电源线路;其中,所述信号针以导电材料制成,且其一端用以点触该待测电子对象;该信号线路具有一第一阻抗值,且与该检测机以及其中至少一信号针的另一端电性连接,用以传输测试信号至该待测电子对象;该电源线路具有一第二阻抗值,且该第二阻抗值远小于该第一阻抗值,且与该检测机以及另外至少一信号针的另一端电性连接,用以传输电源信号至该待测电子对象。 | ||
搜索关键词: | 电源 损耗 探针 结构 | ||
【主权项】:
一种低电源损耗的探针卡结构,用以将一检测机的电源信号以及测试信号传输予一待测电子对象,以通过该电源信号供应电源予该待测电子对象,以及通过该测试信号对该待测电子对象进行电性检测;该探针卡结构包含有:多根信号针,以导电材料制成,且其一端用以点触该待测电子对象;至少一信号线路,具有一第一阻抗值,且与该检测机以及其中至少一信号针的另一端电性连接,用以传输测试信号至该待测电子对象;以及至少一电源线路,具有一第二阻抗值,且该第二阻抗值远小于该第一阻抗值,且与该检测机以及另外至少一信号针的另一端电性连接,用以传输电源信号至该待测电子对象;其中,该第一阻抗值包括由该信号线路的电阻值及该信号线路的电容值所形成;该第二阻抗值包括由该电源线路的电阻值及该电源线路的电容值所形成;其中,该电源线路的电阻值小于该信号线路的电阻值,且该电源线路的电容值高于该信号线路的电容值,使该第二阻抗值远小于该第一阻抗值。
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