[发明专利]位置测量装置

摘要

本发明涉及一种位置测量装置。其包括具有环形围绕的反射测量分度的圆柱形目标，该目标能绕目标纵轴旋转地布置。此外该位置测量装置包括相对于能旋转地布置的目标静止的﹑用于光学扫描反射测量分度的扫描单元，其具有光源﹑发射光栅和探测器。在此光源发射的光束穿过发射光栅，接着射到反射测量分度上，由该反射测量分度实现沿探测器方向的向回反射，通过该光束能产生与转动有关的位置信号。根据圆柱形目标的半径，选择在探测器与反射测量分度之间的光学有效标准距离大于或小于在发射光栅与反射测量分度之间的光学有效标准距离。

主权项

一种位置测量装置，具有带有环形围绕的反射测量分度的圆柱形的目标，所述目标为能绕目标纵轴旋转地布置，并且相对于能旋转地布置的所述目标静止的﹑用于光学扫描所述反射测量分度的扫描单元，所述扫描单元带有光源﹑发射光栅和探测器，其中由所述光源发射的光束穿过所述发射光栅，接着射到所述反射测量分度上，并且由所述反射测量分度实现沿所述探测器的方向向回反射，通过所述光束能产生与转动有关的位置信号，其特征在于，根据圆柱形的所述目标的半径，在所述探测器与所述反射测量分度之间的光学有效标准距离大于或小于在所述发射光栅与所述反射测量分度之间的光学有效标准距离，在所述发射光栅与所述探测器之间的标准距离为ε＝(2·u2)/R包括+/‐20％的公差在内，其中：ε:＝在所述发射光栅与所述探测器之间的标准距离u:＝由所述发射光栅至所述反射测量分度的光学有效标准距离R:＝圆柱形的所述目标的所述半径，其中R＞0用于外部扫描，并且R＜0用于内部扫描。