[发明专利]以短孔为基准的几何要素测量方法

摘要

一种以短孔为基准的几何要素测量方法，包括：1）建立测量模型，测量模型至少包括第一端面以及第一孔；第一孔的出口所在平面与第一端面相重合；2）在测量模型的第一端面建立第一端面平面粗基准；3）对第一孔内表面建圆得到圆心，根据圆心建立粗坐标系；4）建立第一端面平面精基准并设定Z方向；5）将第一孔沿Z方向分为N层；在第一孔内沿第一孔的圆周方向对每层进行测试点采集；每层中采集得到的测试点是M个；建立第一孔基准轴线的同时得到Z向坐标系；6）评价步骤4）中所建立的第一端面平面精基准，得到第一孔对第一端面的跳动。本发明提供了一种测量误差低以及测量结果可靠的以短孔为基准的几何要素测量方法。

主权项

一种以短孔为基准的几何要素测量方法，其特征在于：所述以短孔为基准的几何要素测量方法包括以下步骤：1）建立测量模型，所述测量模型至少包括第一端面以及第一孔；所述第一孔的出口所在平面与第一端面相重合；2）利用三坐标测量机在测量模型的第一端面建立第一端面平面粗基准；3）在步骤2）所建立的第一端面平面粗基准下对第一孔内表面建圆得到圆心，根据圆心建立粗坐标系；4）在第一端面中以步骤3）所建立的粗坐标系为基准建立第一端面平面精基准，并设定Z方向；5）在第一端面平面精基准下将第一孔沿Z方向分为N层；在第一孔内沿第一孔的圆周方向对每层进行测试点采集；所述每层中采集得到的测试点是M个；建立第一孔基准轴线的同时得到Z向坐标系；所述N不小于3；所述M不小于4；6）采用步骤5）中所得到的第一孔基准轴线评价步骤4）中所建立的第一端面平面精基准，得到第一孔对第一端面的跳动。