[发明专利]通用半导体激光器电导数测试仪

摘要

本发明的通用半导体激光器电导数测试仪，属于半导体激光器可靠性测试的技术领域。结构包括计算机（41）、数据采集卡（42）、被测激光器（29）、光电探测器（30）、脉冲压控电流源（43）和采样保持器（46）。数据采集卡（42）通过模拟输出端与数字I/O口与脉冲压控电流源（43）连接；脉冲压控电流源（43）为被测激光器（29）提供驱动电流；数据采集卡（42）的两路模拟输入端分别测量被测激光器（29）的结电压和通过采样保持电路（46）测量被测激光器（29）的光功率。本发明能测量连续半导体激光器、脉冲半导体激光器和激光器芯片的电导数，通用性强；未使用锁相放大器、正弦信号发生器的设备，结构简单而成本低。

主权项

一种通用半导体激光器电导数测试仪，结构包括计算机（41）、数据采集卡（42）、被测激光器（29）、光电探测器（30）；计算机（41）与数据采集卡（42）通过数据连接；其特征在于，结构还有脉冲压控电流源（43）和采样保持器（46）；数据采集卡（42）通过模拟输出端与数字I/O口与脉冲压控电流源（43）连接；脉冲压控电流源（43）的输出端连接被测激光器（29），为被测激光器（29）提供驱动电流；同时，被测激光器（29）与数据采集卡（42）的一路模拟输入端连接，由此测量被测激光器（29）的结电压；被测激光器（29）的输出光功率由光电探测器（30）转换为电信号，经采样保持器（46）后连接至数据采集卡（42）的另一路模拟输入端，由此测量被测激光器（29）的光功率。