[发明专利]超低光损耗的光纤熔接方法有效
申请号: | 201310530943.0 | 申请日: | 2013-10-31 |
公开(公告)号: | CN103529517A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 周胜;赵青春 | 申请(专利权)人: | 广东高聚激光有限公司;苏州华必大激光有限公司 |
主分类号: | G02B6/255 | 分类号: | G02B6/255 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 项丽 |
地址: | 528225 广东省佛山市南海区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种超低光损耗的光纤熔接方法,它包括以下步骤:(a)预处理:热剥除法去除涂覆层;(b)显微测量:得到光纤的纤芯和内包层重心的偏移量和偏移方向;(c)研磨:沿着纤芯和内包层重心连线方向对光纤内包层进行研磨;(d)对准熔接四个步骤,其利用显微测量得到光纤的纤芯和内包层重心的偏移量和偏移方向,从而对其中一根光纤的内包层进行研磨,确保内包层重心和纤芯同时对准,使得光纤熔接后纤芯仍然保持精确的对准状态,有效地降低了该熔接点的光损耗、光散射、光反射和光吸收引起的发热,提高了该熔接点的光学连续性,从而降低对该熔接点封装散热的要求,减小了对光纤激光器系统中的其它光元件的潜在损坏威胁。 | ||
搜索关键词: | 超低光 损耗 光纤 熔接 方法 | ||
【主权项】:
1.一种超低光损耗的光纤熔接方法,其特征在于:它包括以下步骤:(a)预处理:用热剥除法去除两根光纤在熔接区域内的涂覆层;(b)显微测量:分别对两根光纤的端面进行显微测量,得到光纤的纤芯和内包层重心的偏移量和偏移方向;(c)研磨:根据步骤(b)中得到的纤芯和内包层重心的偏移量和偏移方向,通过下述重心计算公式(1)和公式(2)计算光纤的内包层重心位置,确定纤芯偏离内包层重心的距离和角度,然后利用光纤研磨机沿着纤芯和内包层重心连线方向对其中一根光纤内包层进行研磨,直至两根光纤的内包层重心与纤芯距离相同,并将两根光纤的“纤芯-内包层重心”连线方向标记于光纤的表面,
(1)和
(2),式中,
和
是重心的坐标,
是纤芯的二维空间区域;(d)对准熔接:将这两根光纤置于熔接机中,使它们的纤芯和内包层重心进行同时对准,进行光纤熔接。
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