[发明专利]超低光损耗的光纤熔接方法

权利要求书

1.一种超低光损耗的光纤熔接方法，其特征在于：它包括以下步骤：

（a）预处理：用热剥除法去除两根光纤在熔接区域内的涂覆层；

（b）显微测量：分别对两根光纤的端面进行显微测量，得到光纤的纤芯和内包层重心的偏移量和偏移方向；

（c）研磨：根据步骤（b）中得到的纤芯和内包层重心的偏移量和偏移方向，通过下述重心计算公式（1）和公式（2）计算光纤的内包层重心位置，确定纤芯偏离内包层重心的距离和角度，然后利用光纤研磨机沿着纤芯和内包层重心连线方向对其中一根光纤内包层进行研磨，直至两根光纤的内包层重心与纤芯距离相同，并将两根光纤的“纤芯-内包层重心”连线方向标记于光纤的表面，

（1）和 （2），

式中，和是重心的坐标，是纤芯的二维空间区域；

（d）对准熔接：将这两根光纤置于熔接机中，使它们的纤芯和内包层重心进行同时对准，进行光纤熔接。

2.根据权利要求1所述的超低光损耗的光纤熔接方法，其特征在于：所述的两根光纤内包层分别为圆形和八角形。

3.根据权利要求2所述的超低光损耗的光纤熔接方法，其特征在于：对所述内包层为圆形的光纤进行研磨。

4.根据权利要求1所述的超低光损耗的光纤熔接方法，其特征在于：所述的两根光纤纤芯均为圆形且尺寸一致。

5.根据权利要求1所述的超低光损耗的光纤熔接方法，其特征在于：所述的两根光纤都是有源光纤、都是无源光纤或者一根为有源光纤一根为无源光纤。