[发明专利]包括铌掺杂的n型SiC外延层的PIN型同位素核电池的制造方法无效

专利信息
申请号: 201310515638.4 申请日: 2013-10-26
公开(公告)号: CN103730182A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 梅欣 申请(专利权)人: 溧阳市浙大产学研服务中心有限公司
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 黄明哲
地址: 213300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种包括铌掺杂的n型SiC外延层的PIN型同位素核电池的制造方法,该电池包括放射性同位素源层1、SiO2钝化层2、SiO2致密绝缘层3、p型欧姆接触电极4、p型SiC外延层5、n型SiC外延层6、n型SiC衬底7和n型欧姆接触电极8,在制造方法中包括在初始n型SiC外延层上再进行注入能量为2000KeV~2500KeV,注入剂量为5×1013~1×1015cm-2的铌离子注入,然后在1450℃~1650℃的高温下热退火20~40分钟,进而得到掺杂浓度为1×1013~5×1014cm-3的n型SiC外延层。该方法减少本征层的载流子浓度,增大耗尽区宽度,提高产生的电子空穴对的收集率,进而提高器件的开路电压和能量转换效率。
搜索关键词: 包括 掺杂 sic 外延 pin 同位素 核电 制造 方法
【主权项】:
一种包括铌掺杂的n型SiC外延层的PIN型同位素核电池的制造方法,包括如下步骤:(1)在高掺杂n型SiC衬底上,外延生长初始n型SiC外延层;(2)在初始n型SiC外延层上再进行注入能量为2000KeV~2500KeV,注入剂量为5×1013~1×1015cm‑2的铌离子注入,然后在1450℃~1650℃的高温下热退火20~40分钟,进而得到掺杂浓度为1×1013~5×1014cm‑3的n型SiC外延层;(3)在掺杂浓度为1×1013~5×1014cm‑3的n型SiC外延层上生长高掺杂p型外延层;(4)在高掺杂p型外延层上采用电感耦合等离子体刻蚀法刻蚀出台面;(5)对刻蚀后的样片进行RCA标准清洗,干氧氧化,形成SiO2致密氧化层;(6)在SiO2致密氧化层上采用低压热壁化学气相淀积法淀积SiO2钝化层;(7)在SiO2钝化层上涂胶,光刻制作阻挡层,腐蚀开窗;(8)在开窗后的样片正面涂胶,使用含p型电极形状的光刻版,光刻产生电极金属区,然后通过磁控溅射淀积Ti/Al/Au合金,再进行剥离,形成p型电极图形;(9)在样片背面通过磁控溅射淀积Ni/Cr/Au合金,形成n型接触电极;(10)将整个样片在1050℃下氮气气氛中快速热退火3分钟,同时形成p型和n型欧姆接触电极;(11)在高掺杂p型外延层上选择性的镀上同位素源,完成铌掺杂n型外延层的PIN型同位素核电池的制作。
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