[发明专利]一种半导体激光器光强分布测试方法及其装置有效
| 申请号： | 201310508297.8 | 申请日： | 2013-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN103528676A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;王贞福;吴迪 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 胡乐 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体激光器光强分布测试方法，是将半导体激光器定位，经取样装置由激光强度测量仪探测接收到的激光光强；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线，本发明可以准确测试半导体激光器的远场光强分布，通过光强分布可以得到半导体激光器的光斑尺寸，远场发散角等信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 分布 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
半导体激光器光强分布测试方法，是将半导体激光器定位，经取样装置由激光强度测量仪探测接收到的激光光强；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线；其中，包括以下环节：取样装置在当前扫描幅面内，相对于半导体激光器以扫描基准线为轴、按照设定的扫描半径和步长旋转，实时记录取样装置相对于扫描中心的角度θ以及对应的光强度I，并记录原点至该扫描幅面的垂直距离；完成当前扫描幅面内的信息记录；相对于半导体激光器，取样装置沿扫描基准线轴向步进，按照上述操作再次进行扫描和记录；最终完成扫描基准线上全部扫描和记录，绘制出光强曲面。
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