[发明专利]一种基于缺陷概率的工艺分析与优化设计方法有效

专利信息
申请号: 201310499531.5 申请日: 2013-10-23
公开(公告)号: CN103530467A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 张纬静;姬广振;赵丹;李娟;刘英;李阳;涂宏茂;刘勤;钱云鹏;杨春华 申请(专利权)人: 中国兵器科学研究院
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100089 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种在工艺设计阶段进行可靠性分析评价与可靠性优化的定量方法,通过可靠性分析评价,可以比较不同工艺方案的优劣,评估制造风险,找出影响制造结果的重要参数,通过可靠性优化设计,可以获得更为可靠的参数最优值,主要包括5个步骤:制造过程缺陷分析与影响参数筛选;制造过程不确定性识别;基于近似模型的工艺可靠性分析与制造风险评估;基于可靠性的工艺优化建模;工艺可靠性优化模型的求解。
搜索关键词: 一种 基于 缺陷 概率 工艺 分析 优化 设计 方法
【主权项】:
一种基于缺陷概率的工艺分析与优化设计方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:制造过程缺陷分析与影响参数筛选;步骤2:制造过程不确定性识别;步骤3:基于近似模型的工艺可靠性分析与制造风险评估;步骤4:基于可靠性的工艺优化建模;步骤5:工艺可靠性优化模型的求解。
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