[发明专利]一种(220)取向的铜铟镓硒薄膜制备方法有效
申请号: | 201310498733.8 | 申请日: | 2013-10-22 |
公开(公告)号: | CN103531661A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 闫勇;余洲;张勇;晏传鹏;赵勇 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C14/35 |
代理公司: | 成都博通专利事务所 51208 | 代理人: | 陈树明 |
地址: | 610031 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种(220)取向的铜铟镓硒薄膜制备方法,其步骤主要是:A:清洗基片;B:预溅射;C:溅射沉积薄膜:保持溅射功率为5W/cm2,基片温度为320-380℃,并将氩气气压调节为1.0~4.0Pa进行10分钟的溅射;之后将氩气气压降低至0.5Pa,并在基片上施加20~30V的偏压,进行2小时的溅射,即得到具有(220)取向的铜铟镓硒薄膜。该方法用磁控溅射方法制备出(220)取向的CIGS薄膜,以其制备的电池转换效率高。且其制备工艺简单、成本低,制备过程中无毒无污染,适合于工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 220 取向 铜铟镓硒 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种(220)取向的铜铟镓硒薄膜制备方法,包括以下步骤:A:清洗基片:将基片依次在丙酮、乙醇、去离子水中各经过10‑20分钟的超声清洗,然后用热氮气干燥后放入磁控溅射设备的溅射室;B:预溅射:在磁控溅射靶枪上安装纯度为99.99%的复合铜铟镓硒靶,复合铜铟镓硒靶中各元素的化学计量比为Cu:In:Ga:Se=1:0.7:0.3:2,调整溅射靶枪到基片的距离为4‑8厘米,将溅射室抽真空至气压小于2×10‑4Pa,再通入纯度为99.995%的氩气;调节溅射功率为4‑6W/cm2,基片温度为320‑380℃,待辉光稳定后,对复合铜铟镓硒靶预溅射8‑15分钟,以除去其表面污染物;C:溅射沉积薄膜:保持溅射功率为4‑8W/cm2,基片温度为320‑380℃,并将氩气气压调节为1.0~4.0Pa进行10‑15分钟的溅射;之后将氩气气压降低至0.5Pa,并在基片上施加20~30V的偏压,进行2‑2.5小时的溅射,即得到具有(220)取向的铜铟镓硒薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的