[发明专利]一种测量建筑基坑水平位移的方法有效

专利信息
申请号: 201310493151.0 申请日: 2013-10-21
公开(公告)号: CN103526783A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 李富荣;李维功;王永跃;石俊成;唐庆隆;刘云利 申请(专利权)人: 中航勘察设计研究院有限公司
主分类号: E02D33/00 分类号: E02D33/00;E02D1/00
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 陈宏林
地址: 100098*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种测量建筑基坑水平位移的方法,该方法是采用双极坐标测量方法对监测点进行角度距离的采集,通过简单计算即可获得各监测点的坐标,利用程序可快速、准确的计算出监测点到虚拟基准线的垂直距离。距离的差值即为基坑水平位移。此方法简单易行,方便进行程序的编写和批量处理,大大的提高了计算效率,且将出错的概率降低到最低。
搜索关键词: 一种 测量 建筑 基坑 水平 位移 方法
【主权项】:
1.一种测量建筑基坑水平位移的方法,其特征在于:该方法的步骤是:⑴利用两个基坑的水平位移测量基准点(4)建立一个独立的平面坐标系,在该坐标系下,绘制基坑开挖线(1)并标注每个基坑的水平位移监测点(2)的坐标位置,然后沿基坑开挖线(1)向外偏移2~3米构成一条与基坑开挖线(1)平行的虚拟基准线(3);⑵在现场一个基坑的水平位移测量基准点(4)上架设1″级或以上精度的全站仪(5),照准另一个基坑的水平位移测量基准点(4),测量两个基坑的水平位移测量基准点(4)之间的连线与全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)和各个基坑的水平位移监测点(2)的连线的夹角β,测量全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)和各个基坑的水平位移监测点(2)之间的距离S;⑶计算各个基坑的水平位移监测点(2)的坐标值,计算公式如下:{Xi=X0+S·cosβYi=Y0+S·sinβ]]>公式1式中:Xi,Yi为各基坑的水平位移监测点(2)的坐标值,X0,Y0为全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)的坐标值;⑷计算基坑的水平位移监测点(2)到虚拟基准线(3)的垂直距离,计算公式如下:公式2式中Di为基坑的水平位移监测点(2)到虚拟基准线(3)的垂直距离,为虚拟基准线(3)的起点坐标值,Xi,Yi为各基坑的水平位移监测点(2)的坐标值,a为虚拟基准线(3)的方位角;(5)基坑的水平位移监测点(2)到虚拟基准线(3)的垂直距离的变化量为:公式3式中Di为第i次基坑的水平位移监测点(2)到虚拟基准线(3)的垂直距离,为第1次基坑的水平位移监测点(2)到虚拟基准线(3)的垂直距离,ΔD即为基坑水平位移量。
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