[发明专利]一种用于光谱分析和化学分析的纯铜标准样品及制备方法有效
申请号: | 201310489178.2 | 申请日: | 2013-10-18 |
公开(公告)号: | CN103528867A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 李岩松;杨洪英;张泉 | 申请(专利权)人: | 东北大学 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N30/04 |
代理公司: | 沈阳东大专利代理有限公司 21109 | 代理人: | 梁焱 |
地址: | 110819 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明属于有色金属领域,具体涉及一种用于光谱分析和化学分析的纯铜标准样品及制备方法。用于光谱分析和化学分析的纯铜标准样品定值元素为18个Se、Te、Bi、Cr、Mn、Sb、Cd、As、P、Pb、S、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、Co和Ag,各定值元素含量呈梯度上升,余量为铜。其制备方法是首先配制中间合金,然后采用中频感应炉,加入各中间合金,熔融后于1175~1200℃进行浇注,浇注成铜锭,经检验加工后得到铜标准样品。本发明的铜标准样品可同时用于高纯铜、无氧铜、高纯阴极铜、阴极铜中化学成分的直读光谱分析和ICP、原子吸收及其他化学分析,填补了用于光谱分析和化学分析的纯铜标准样品的市场空白。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 光谱分析 化学分析 标准 样品 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于光谱分析和化学分析的纯铜标准样品,其特征在于定值元素为18个,各定值元素含量呈梯度上升,其含量范围按重量百分比为:Se 0.00002~0.00097%,Te 0.00003~0.0013%,Bi 0.00002~0.0012%,Cr 0.00002~0.0032%,Mn 0.00003~0.0027%,Sb 0.00002~0.0031%,Cd 0.00001~0.0038% ,As 0.00001~0.0038%,P 0.00005~0.0066%,Pb 0.00003~0.0044%, S 0.00015~0.0082%,Sn 0.00001~0.0033%,Ni 0.00004~0.0060%,Fe 0.00005~0.0046%,Si 0.00005~0.0034% ,Zn 0.00004~0.0042%,Co 0.00001~0.0045%,Ag0.00007~0.0052%,余量为铜。
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